令和元年度（再試験） 問26 無機化学及びセラミックス

次の記述の下線部（A）～（E）に関して、不適切なものの組合せはどれか。

　（A）X線の物体への透過力は波長が短いほど大きい。また、（B）物体の構成元素の原子番号が大きいほど、物体が薄いほどよく透過する。この透過力の違いを利用して物体の内部構造を観察する方法をX線透過法と呼ぶ。X線を（C）物体に照射するとその構成元素に特有な波長を持つ特性X線（二次X線）が発生する。この（D）特性X線を分光分析することで構成元素を知る方法を発光分光分析法と呼ぶ。X線は物体を構成する原子により散乱される。物体を構成する原子が規則正しく並んでいて。（E）各原子によって散乱されるX線の位相がそろって互いに強めあう場合に、結晶構造を反映した回折線が観察される。これを利用して結晶構造や結晶の単位格子の大きさを知る方法をX線回折法と呼ぶ。